電化學氫滲透測試的數據處理核心，是從測得的電流-時間曲線中提取出能反映材料氫擴散性能的關鍵參數，如“有效擴散系數"和“氫陷阱密度"。

目前大家都是參考ASTM G148標準。整個流程通常包含曲線預處理、特征參數提取、計算與分析這三個步驟：

 ?? 第一步：獲取與處理原始數據

首先從測試軟件中導出原始電流-時間曲線（即“滲氫瞬態曲線"）。在進行分析前，通常要對數據進行“基線校正"，即扣除背景電流，以獲得純粹的氫滲透電流it。

 ?? 第二步：提取關鍵特征參數

基于校正后的曲線，可以提取三個核心參數：

1. 穩態電流密度 IOO：曲線達到平臺期時的電流值，反映了氫在材料中的穩態滲透通量。

2.滯后時間tlag：當氫的通量（滲透電流）達到穩態值 IOO 的63%時對應的時間，記為 t0.63 。

3. 突破時間 tb：陽極檢測到氫滲透電流的初始時刻。對于理想的菲克擴散行為，理論上通量達到穩態值 IOO的6%時，即可視為突破時間。

 ?? 第三步：計算與分析

經典的計算方法是“時滯法"（Time Lag Method）。假設材料為薄板，氫原子沿厚度方向呈一維擴散，其有效擴散系數Deff 可按以下公式計算：

-  L：試樣厚度

- tlag：滯后時間（達到0.63 IOO 所需時間）

-Deff: 有效擴散系數

注意：此公式適用于單相均勻材料，因為真實的金屬材料通常存在晶界、位錯等“陷阱"，得到的是“有效"擴散系數，它小于氫在晶格中的擴散系數。

隨著數據處理技術的發展，針對不同測試情況也衍生出其他分析方法：

未達穩態的情況：如果實驗時間不足或材料氫擴散太慢，曲線尚未達到平臺期，可以采用“拐點切線法"或“斜率法"來計算。這些方法只利用曲線上升階段的早期數據，就能得到擴散系數。

捕捉氫陷阱信息：通過對比“充電瞬態"和“衰減瞬態"曲線，可以更深入地分析材料中可逆與不可逆的氫陷阱狀態，這對理解氫脆機理至關重要。